Es wird eine Zeitbereichsmethode zur Analyse von beliebig geformten dünnen Widerstandsplatten (TRS) vorgestellt. Die Methode nutzt die Oberflächenimpedanzmatrix und stückweise lineare rekursive Faltungstechniken. Die extrahierten Daten von Pol-Rest-Paaren, die nicht von der Geometrie und dem Material der TRS abhängig sind, werden angegeben. Die Stabilitätsbedingung für die Finite-Difference-Time-Domain (FDTD)-Simulation der TRSs wird zum ersten Mal angegeben. Diese Methode wurde mit einem konformen Schema kombiniert, um beliebig geformte TRSs zu analysieren. Die Simulationsergebnisse für drei Testfälle werden angegeben, um die Genauigkeit und Stabilität der vorgeschlagenen Methode zu zeigen.