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Huygens-Oberfläche
Genaue Übertragung der Strahlungseigenschaften von Antennen zur Verwendung außerhalb von XFdtd.
Die Huygens-Oberfläche von XF sammelt stationäre elektrische und magnetische Felder auf einer geschlossenen Oberfläche, die ein Gerät umschließt. Diese Feldwerte geben die Strahlungseigenschaften der Antenne genau wieder und können zur Verwendung in einem Raytracing-Simulationswerkzeug wie Wireless InSite exportiert werden. Zusätzlich zu den Feldern werden ein Phasenzentrum und geometrische Referenzpunkte relativ zur Geometrie angegeben. Das Phasenzentrum wird bei der Strahlenverfolgung als Ursprungs- bzw. Endpunkt von Strahlengängen für Sender und Empfänger verwendet. Der geometrische Referenzpunkt bietet eine einfache Methode zur Platzierung und Ausrichtung der Feldbox innerhalb der Ausbreitungsumgebung. Innerhalb von Wireless InSite können Kommunikationsmetriken wie Durchsatz, Empfangsleistung und SINR berechnet werden.
Lesen Sie zusätzliche Dokumentation über den Huygens-Oberflächensensor von XF...
In XFdtd simulierte Antennengeometrie.
Huygens-Box-Darstellung für den Export verfügbar.
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